型号：TENSOR II
生产厂家：德国布鲁克公司
购置日期：2017/05/31
放置地点：科技综合楼C202（左4室）
主要规格及技术指标：
光谱范围：8,000–340cm-1
光谱分辨率：优于0.4cm-1
波数精度：优于0.01cm-1
信噪比：优于45,000：1（峰-峰值，1分钟测试，噪声采集范围2,100-2,200cm-1）
干涉仪：300干涉仪，光源利用率比450干涉仪提高1.4倍
扫描速度：5档，1.4-51mm/秒光程差
主要功能及特色：
鉴别化合物和确定物质分子结构的常用手段之一。对单组分或混合物中的各组分也可以进行定量分析。
根据分子对红外光吸收后得到谱带频率的位置、强度、形状以及吸收谱带和温度、聚集状态等的关系便可以确定分子的空间构型，求出化学建的力常数、键长和键角。从光谱分析的角度看主要是利用特征吸收谱带的频率推断分子中存在某一基团或键，由特征吸收谱带频率的变化推测临近的基团或键，进而确定分子的化学结构，当然也可由特征吸收谱带强度的改变对混合物及化合物进行定量分析。
适用于液体、固体、气体、薄膜等样品，可以检测样品的分子结构特征，而且还可对混合物中各组份进行定量分析。
主要附件及配置：
原位漫反射附件Harrick
PIKE漫反射附件
联系人：吕俊敏
电话：18295081927
邮箱：lvjunmin@nxu.edu.cn
